Giới thiệu

Kính hiển vi 75X PEAK 2008-75 là thiết bị quang học chất lượng cao của Nhật Bản, được thiết kế để quan sát và đo lường các chi tiết siêu nhỏ với độ phóng đại 75 lần. Sản phẩm tích hợp thước chia chính xác, mang lại hình ảnh sắc nét và kết quả đo tin cậy, phù hợp cho các ứng dụng trong kiểm tra linh kiện điện tử, cơ khí chính xác, in ấn, nghiên cứu vật liệu và kiểm soát chất lượng (QC) trong sản xuất.

Thông số kỹ thuật

Tính năng nổi bật của Kính hiển vi 75X PEAK 2008-75

• Độ phóng đại 75X giúp quan sát rõ các chi tiết siêu nhỏ, vết nứt, bavia và bề mặt vật liệu.
• Tích hợp thước chia chính xác hỗ trợ đo kích thước, khoảng cách và đường kính của mẫu với độ tin cậy cao.
• Hệ thống quang học chất lượng cao cho hình ảnh sáng, sắc nét, giảm hiện tượng méo hình ở vùng rìa.
• Thiết kế nhỏ gọn, cầm tay thuận tiện mang theo và sử dụng tại hiện trường hoặc trong phòng thí nghiệm.
• Thân kính bền chắc được chế tạo từ vật liệu cao cấp, chống va đập nhẹ và phù hợp với môi trường công nghiệp.
• Lấy nét dễ dàng bằng cơ cấu điều chỉnh tiêu cự, giúp quan sát nhanh và chính xác.
• Sản xuất tại Nhật Bản, đảm bảo chất lượng, độ bền và độ chính xác theo tiêu chuẩn của PEAK.

Ứng dụng của Kính hiển vi 75X PEAK 2008-75

• Kiểm tra linh kiện điện tử như mối hàn, chân IC, PCB và các chi tiết vi mạch.
• Đo và kiểm tra chi tiết cơ khí chính xác, phát hiện bavia, vết nứt hoặc sai lệch kích thước.
• Quan sát bề mặt vật liệu trong ngành kim loại, nhựa, cao su, gốm sứ và vật liệu composite.
• Kiểm tra chất lượng in ấn, đánh giá độ sắc nét của điểm in, đường nét và màu sắc.
• Nghiên cứu khoa học và giáo dục, phục vụ quan sát mẫu vật có kích thước nhỏ.
• Kiểm soát chất lượng (QC/QA) trong các nhà máy sản xuất linh kiện điện tử, cơ khí, ô tô và thiết bị y tế.
• Bảo trì và sửa chữa thiết bị, hỗ trợ kỹ thuật viên kiểm tra các chi tiết nhỏ mà mắt thường khó quan sát.